回路電阻測(cè)試儀原理及其用途

斷路器導(dǎo)電回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的存在，增加了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力。因此，斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器安裝、檢修和質(zhì)量驗(yàn)收的一項(xiàng)重要數(shù)據(jù)。 

    接觸電阻的測(cè)量有許多種方法。日本學(xué)者Isao Minowa提出用超導(dǎo)量子器件測(cè)量接觸電阻，H.Archi提出利用電解槽法測(cè)量接觸電阻，波蘭學(xué)者Jerzy Kaczarek提出用三次諧波法測(cè)量接觸電阻，這些方法一般是在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行電接觸研究所采用的方法。工程中，通常采用四端子法來測(cè)量實(shí)際觸點(diǎn)的接觸電阻。 

以前，通常采用直流雙臂電橋測(cè)量斷路器的接觸電阻。但是，當(dāng)使用雙臂電橋進(jìn)行斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量時(shí)，由于雙臂電橋測(cè)量回路通過的是微弱的電流，難以消除電阻較大的氧化膜，測(cè)出的電阻示值偏大，但氧化膜在大的電流下很容易被擊穿，不妨礙正常電流通過。因此，測(cè)試采用直流壓降法測(cè)試時(shí)，電流不得太小。 

    高壓斷路器導(dǎo)電回路的電阻主要取決于斷路器的動(dòng)、靜觸頭間的接觸電阻。接觸電阻的存在，增加了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力。因此，斷路器每相導(dǎo)電回路電阻值是斷路器安裝、檢修、質(zhì)量驗(yàn)收的一項(xiàng)重要數(shù)據(jù)。 

由于開關(guān)觸頭之間存在氧化膜，如果用較小的電流檢測(cè)，由于氧化膜的影響測(cè)試結(jié)果一般偏大很多，但氧化膜在大電流下是能被擊穿的，理論上，測(cè)試電流只要不超過額定電流，應(yīng)該是越大越好，但規(guī)程在制定的時(shí)候考慮到當(dāng)時(shí)國內(nèi)相關(guān)儀器的生產(chǎn)水平，作出了不得小于100A電流的規(guī)定。   電力設(shè)備與地網(wǎng)導(dǎo)通電阻測(cè)試儀

電力設(shè)備的接地引下線與地網(wǎng)的可靠、有效連接是電力設(shè)備安全運(yùn)行及操作人員人身安全的根本保證。雖然在制作接地裝置時(shí)，已對(duì)接地引下線連結(jié)處做了必要的防腐處理，但位于土壤中的連結(jié)點(diǎn)，仍會(huì)長期受到潮濕等因素的影響，出現(xiàn)接點(diǎn)腐蝕、開斷、松脫等現(xiàn)象，導(dǎo)致接地引下線與地網(wǎng)接觸點(diǎn)電阻值增大，不能達(dá)到電力規(guī)程的要求，使設(shè)備在運(yùn)行中存在不安全隱患，嚴(yán)重時(shí)造成設(shè)備脫開地網(wǎng)運(yùn)行。可用于對(duì)電力設(shè)備接地引下線與接地網(wǎng)或相鄰設(shè)備之間導(dǎo)通電阻值的測(cè)量。

地網(wǎng)導(dǎo)通電阻測(cè)試儀用于測(cè)量接地引下線導(dǎo)通電阻值，通過歷年測(cè)試值及相鄰點(diǎn)測(cè)試值比較來判定故障點(diǎn)。地網(wǎng)導(dǎo)通電阻測(cè)試儀工作電源由內(nèi)部鋰電池提供，無需外接交流電源，測(cè)試過程由單片機(jī)控制完成，具有操作簡單、測(cè)試速度快、測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定、便于攜帶等特點(diǎn)。 

    由于斷路器接觸電阻很小，只有用很高的電流檢測(cè)，才能保證一定的精度，抗干擾能力也越強(qiáng)。 

用于斷路器接觸電阻和載流導(dǎo)體電阻的高精度測(cè)量，能長時(shí)間、穩(wěn)定輸出大電流，符合DL\T845.4-2004《電阻測(cè)量裝置通用技術(shù)條件第四部份:回路電阻測(cè)試儀》的相關(guān)規(guī)定。

大電流發(fā)生器、回路電阻測(cè)試儀、直流高壓發(fā)生器